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Auteur Claude ESNOUF |
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Titre : Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique Type de document : texte imprimé Auteurs : Claude ESNOUF, Auteur Editeur : PPUR Presses polytechniques et universitaires romandes Année de publication : 2011 Importance : 571p. Présentation : couv. ill.; ill. Format : 24cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-884-5 Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre) Catégories : 04 Génie Electrique Mots-clés : éléments de cristallographie diffraction par les cristaux radiocristallographie X diffraction par les rayonnements corpusculaires imagerie électronique spectroscopies X et électronique Index. décimale : 04-06 Matériaux Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude ESNOUF, Auteur . - PPUR Presses polytechniques et universitaires romandes, 2011 . - 571p. : couv. ill.; ill. ; 24cm.
ISBN : 978-2-88074-884-5
Langues : Français (fre) Langues originales : Français (fre)
Catégories : 04 Génie Electrique Mots-clés : éléments de cristallographie diffraction par les cristaux radiocristallographie X diffraction par les rayonnements corpusculaires imagerie électronique spectroscopies X et électronique Index. décimale : 04-06 Matériaux Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité 14423 04-06-01/01 Livre Bibliotheque ESG2E Document Exclu du prêt 14424 04-06-01/02 Livre Bibliotheque ESG2E Document Disponible